首页    实验室仪器    失效分析设备    MOS管动态参数测试仪
MOS管动态参数测试仪

MOS管动态参数测试仪

ITC57300动态参数测试系统主机可执行非破坏性的瞬态测量测试,包括对半导体器件绝缘栅双极晶体管(IGBT),功率MOSFET,二极管,双极型器件的测试头。主机包括所有测试设备和必要的软件分析,可执行电阻和电感的开关时间,开关损耗,栅极

MOS管,IGBT,二三极管

帮助客户实现快速、可靠、降成本方案

半导体供应链整体方案服务平台