在低温条件下存储器件，以评估其在低温环境下的性能

评价产品在潮湿环境下使用的安全可靠性（安全或可靠性试验）

通过施加极端的应力条件来评估器件的极限性能

满足各种封装的二极管、三极管、SCR、MOSFET等高温反偏试验

功率循环测试：适用于IGBT和SiC MOSFET的功率循环测试，支持分钟级和秒级功率循环。
热阻测试：通过测量器件的瞬态温度响应曲线，评估器件的热阻特性。
K系数测试：可对被测器件进行K系数的测量。
多通道测试：系统可同时测试多个器件，支持串联配置。
实时监控：监控试验电流、栅极电流、栅极电压、集射极饱和压降、热阻等参数，并记录数据以供后续分析。

评估器件对焊接过程中高温的敏感度

模块/系统成品类产品环境仿真试验
模块/系统成品类产品应力寿命试验(Strife test)
PCB/PCBA/焊点加速应力试验(ALT/AST)…

用于评估产品耐盐雾腐蚀性能

规格型号：WBE-GDC-750
设备生产厂家：威旭仪器
测试项目：模拟器件在运输或使用过程中可能遇到的振动环境，评估其机械稳定性

规格型号：HAST Chamber
设备生产厂家：威旭仪器
测试项目：在高温高湿高气压条件下进行的加速应力试验

规格型号：HAST / B-HAST
设备生产厂家：中安电子
测试项目：在高温高湿条件下进行的无偏压加速应力试验

规格型号：GKH-HTGB-C16
设备生产厂家：华科智源
测试项目：针对MOSFET等器件，在高温条件下施加栅极偏压，以评估器件的可靠性