低温存储
提供冷热冲击试验箱，用于存储芯片的低温存储实验。实验方案中，存储芯片样品安装于测试电路板放入试验箱，在-55℃至125℃的温度范围内进行100次冲击循环，高低温极值各停留30分钟
在低温条件下存储器件，以评估其在低温环境下的性能
提供冷热冲击试验箱，用于存储芯片的低温存储实验。实验方案中，存储芯片样品安装于测试电路板放入试验箱，在-55℃至125℃的温度范围内进行100次冲击循环，高低温极值各停留30分钟
